克尔显微镜：小范围表征磁性本征参数，为磁控制实验与不均匀材料表征提供可能

克尔显微镜有一套方法来表征几乎所有的磁性本征参数。与其他表征方法相比，其最大的优势在于可以在小范围(220 nm)内表征局部性质，为各种磁控制实验(如辐照、电压控制、光磁控制)和性质不均匀的材料表征提供了可能。